光耦参数测试仪

更新时间：2019-05-28

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光耦参数测试仪型号：JFY3010A

JFY3010A光耦参数测试仪详细介绍
※概述:
JFY3010A光耦参数测试仪，是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。
※ 测量元件类型:三管类型4脚 6脚光耦
※ 测量参数:

参数指标表:

参数項	测试参数	测试条件设置
输入正向压降(VF)	0-2.000V	0-400MA
耐压(BVCEO)	0-1200V	0-2.000MA
传输比(CTR)	0-3000	VCE:0-20V IC:0-2.000A
饱和压降(Vsat)	0-2.000V	IF:0-400MA IC:0-2.00A
输出漏电流(Iceo)	0-1mA	VCE=20V
输入反向漏电流(IR)	0-1mA	VR=4V

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